חומרים נפוצים הגורמים להרעלת זרז פלטינה

חומרים נפוצים הגורמים להרעלת זרז פלטינה

תרכובות המכילות גופרית:

בנוסף למימן הגופרתי שהוזכר לעיל, ישנם גם גופרית דו חמצנית (SO₂), מרקפטנים (כגון מתיל מרקפטן CH₃SH), תיאופן וכו'. חומרים אלו נמצאים לרוב בגז הגולמי או במערכת התגובה בתחומי הפטרוכימיה, הפחם תעשייה כימית וכו'. אפילו לכמויות של תרכובות המכילות גופרית עשויות להיות השפעה הרעלה משמעותית על זרזי פלטינה. לדוגמה, בתגובת הרפורמה במהלך תהליך זיקוק הנפט, כמויות עקבות של גופרית הכלולות בחומרי הגלם ירעילו את הזרז לרפורמת פלטינה, וישפיעו על יעילות היצירה של ארומטים ואיכות המוצר.

תרכובות המכילות חנקן:

כגון אמוניה (NH₃), פירידין, תרכובות ניטריל וכו'. בייצור כימי הכולל חומרי גלם או מוצרים המכילים חנקן, הם עלולים להיספג על זרזי פלטינה, ולגרום להרעלת זרז. לדוגמה, בכמה תגובות דניטריפיקציה של הפחתה קטליטית סלקטיבית, אם זיהומים אחרים המכילים חנקן מעורבבים במערכת התגובה, זה עלול להשפיע על השפעת הדניטריפיקציה של פלטינה כזרז.

תרכובות המכילות פחמן:

משקע הפחמן שהוזכר לעיל הוא מקרה אחד. בנוסף, פחמימנים בלתי רוויים מועדים לפילמור ולקוקינג על פני השטח של זרזי פלטינה בתנאים ספציפיים כמו טמפרטורה גבוהה. לדוגמה, בתגובות כגון פילמור אתילן, אם תנאי התגובה אינם נשלטים כראוי, הפולימרים המיוצרים עשויים להיצמד לזרז הפלטינה, ולהשפיע על יכולתו להמשיך לזרז פילמור אתילן.

מתכות כבדות ותרכובות מתכות:

יסודות מתכת כבדים כגון עופרת (Pb), כספית (Hg), ארסן (As) ותרכובותיהם, גם אם הם קיימים בכמות קטנה מאוד במערכת התגובה, ברגע שהם באים במגע עם זרז הפלטינה, הם עלולים לשנות את המבנה האלקטרוני של פני השטח ואת פעילותו על ידי יצירת סגסוגות עם פלטינה. לדוגמה, זיהומים המכילים עופרת המעורבבים במערכת טיהור פליטת הרכב באמצעות פלטינה כזרז יפחיתו במידה ניכרת את יעילות ההמרה הקטליטית של זרז הפלטינה עבור מזהמים כגון פחמן חד חמצני, פחמימנים ותחמוצות חנקן.